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【2h】

RF/microwave non-destructive measurements of electrical properties of semiconductor wafers for thermophotovoltaic applications

机译：用于热光电应用的半导体晶片的电特性的RF /微波无损测量

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Saroop, S.; Borrego, J.M.; Gutmann, R.J.;
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年度 1997
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机译：用于热光电应用的半导体晶片的电特性的RF /微波无损测量。

RF/microwave non-destructive measurements of electrical properties of semiconductor wafers for thermophotovoltaic applications

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